《表1 不匹配端口关系表:软错误缓解动态部分可重构的抗单粒子方案》
其逻辑关系如表1所示。当未检测出故障时只需启动其中1个子模块;当子模块出问题时可以进行TMR切换;当出现致命错误时需要启动SEM进行软错误缓解。
图表编号 | XD00167212700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.03.20 |
作者 | 谢达、董宜平、王兰、曹进德、郭俊杰 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第58研究所、中国电子科技集团公司第58研究所、无锡职业技术学院基础课部、东南大学数学学院、东南大学数学学院、中国电子科技集团公司第58研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |