《表1 干涉仪组件漏热试验结果Tab.1 The experimental results of heat leak of interferome-ter components》

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《低温光学系统漏热测试方法及试验研究》

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通过对试验数据进行分析，得到干涉仪组件的各项漏热值如表1所示，表中可看出:采用本试验测试系统，当干涉仪工作温度为200K时，总的漏热达到3.78W，其中隔热支撑的传导漏热占比最大（64%），为进一步减小干涉仪组件的漏热，需对隔热支撑进一步优化，可采用支撑壁面打孔的方式减小有效热传导截面积，或选用导热率更低、强度更高的材料，减小系统的导热漏热，提高冷量利用效率。