《表7 外壳形变情况统计:某PIN模块响应度降低故障失效研究》
对外壳形变测试情况进行统计,结果如表7所示。
图表编号 | XD00146150500 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.08.20 |
作者 | 吴琼瑶、李钦、伍明娟 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
对外壳形变测试情况进行统计,结果如表7所示。
图表编号 | XD00146150500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.08.20 |
作者 | 吴琼瑶、李钦、伍明娟 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |