《表5 各种高散热基板特性比较》
注:□表示优△表示中◇表示差
其结果将致使铜形成微孔和裂纹,从而脆化,因此,已形成DBC封装的产品不宜再进入含H2、H2+N2等还原气氛炉中进行焊接或其他操作,否则可靠性将下降,见表5[15]。
图表编号 | XD00143685400 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.02.25 |
作者 | 高陇桥、崔高鹏、刘征 |
绘制单位 | 北京真空电子技术研究所、北京真空电子技术研究所、北京真空电子技术研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
注:□表示优△表示中◇表示差
其结果将致使铜形成微孔和裂纹,从而脆化,因此,已形成DBC封装的产品不宜再进入含H2、H2+N2等还原气氛炉中进行焊接或其他操作,否则可靠性将下降,见表5[15]。
图表编号 | XD00143685400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.02.25 |
作者 | 高陇桥、崔高鹏、刘征 |
绘制单位 | 北京真空电子技术研究所、北京真空电子技术研究所、北京真空电子技术研究所 |
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