《表1 SmB6纳米线和纳米带薄膜的形貌对比》
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《SmB_6单晶纳米结构的可控制备及场发射特性研究》
通过改变生长条件,分别在Si衬底上成功生长出六硼化钐(SmB6)单晶纳米带和纳米线结构。图1给出了Sm B6纳米线和纳米带的典型形貌。从图1(a~b)中,发现纳米线的表面十分光滑,而且顶端存在球型的催化剂。纳米线的平均长度约为47.8μm,顶端平均直径为108 nm左右。从图1(c~d)中,可以看到Si衬底上所生长的SmB6纳米带具有均匀的生长形貌。SmB6纳米带的长度分布在10~90μm,厚度则分布在50~150 nm。纳米带的表面也十分光滑,而且从根部到底部的宽度基本相同,平均为1μm左右。同时,还对纳米带和纳米线的生长形貌进行了对比,结果如表1所示。可以看到,纳米线的生长密度为5×107/cm2,要略高于纳米片的生长密度4×107/cm2。图2(a)给出了所制备的纳米线和纳米带样品的XRD图谱。可以看到,纳米线和纳米带薄膜的衍射峰与标准卡片SmB6(JCPDS No.36-1326)的数据吻合,而且不存在任何其他杂峰,表明所制备的两种样品都是SmB6单晶材料。此外,从两种样品薄膜的Raman谱图(图2(b))中可以看到,SmB6纳米带和纳米线薄膜都存在697,1137和1224 cm–1三个特征峰,分别对应于A1g,Eg和T2g振动模式[16]。其中,T2g和A1g应来自于B-B键的拉伸振动模式,Eg则是来源于B-B-B键角弯曲振动模式。SmB6纳米带和纳米线薄膜尖锐的拉曼峰同样说明所制备的SmB6纳米材料的结晶性良好。
图表编号 | XD00139752100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.02.01 |
作者 | 张彤、黎子娟、郭泽堃、田颜、林浩坚、许宁生、陈军、邓少芝、刘飞 |
绘制单位 | 中山大学电子与信息工程学院光电材料与技术国家重点实验室广东省显示材料与技术重点实验室、中山大学电子与信息工程学院光电材料与技术国家重点实验室广东省显示材料与技术重点实验室、中山大学电子与信息工程学院光电材料与技术国家重点实验室广东省显示材料与技术重点实验室、中山大学电子与信息工程学院光电材料与技术国家重点实验室广东省显示材料与技术重点实验室、中山大学电子与信息工程学院光电材料与技术国家重点实验室广东省显示材料与技术重点实验室、中山大学电子与信息工程学院光电材料与技术国家重点实验室广东省显示材料与技术重点实 |
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