《表2 不同过渡电阻的故障测距结果》
由图9可以看出,本文方法测距的精度最高,WT和HHT测距的精度忽高忽低,WT测距的精度受到小波基函数和分解尺度的影响,而HHT测距的精度受到存在模态混叠和端点效应的缺陷的影响。显然,本文的方法在故障测距方面是对WT和HHT的改进,不仅测距精度更高,而且受过渡电阻和故障类型的影响较小。
图表编号 | XD00132354400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.02.01 |
作者 | 艾轩源、刘辉、谭畅 |
绘制单位 | 湖北工业大学电气与电子工程学院、国网鄂州供电公司、国网湖北检修公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |