《表3 MT支路不同位置处发生IAIIBG故障时过渡电阻对测距结果的影响Tab.3 Influence of fault resistance on fault location for IAIIBG
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《非全程同杆并架双回输电线路非同步数据故障测距算法》
表2列出了δ1和δ2分别为10°和20°时，各支路在不同位置处发生不同故障时的测距结果，由于双回线路故障类型繁多，表中只列出了MT支路发生几个典型故障时的测距结果。表3列出了MT支路不同位置处发生IAIIBG故障（A相和B相跨线接地故障）时过渡电阻对测距结果的影响情况。
| 图表编号 | XD0016519100 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2018.07.01 |
| 作者 | 张斯淇、李永丽、陈晓龙 |
| 绘制单位 | 天津大学电气自动化与信息工程学院、国网南京供电公司、天津大学电气自动化与信息工程学院、天津大学电气自动化与信息工程学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
