《表4 不同情况下测试的抖动值》
对流片后的芯片做抖动测试,不同情况下测试眼图结果如图10所示,各种情况下测试的抖动值如表4所示,从测试结果可知,测试值大于仿真值,这是由于测试条件的影响所致。
图表编号 | XD00130962000 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.03.20 |
作者 | 沈广振、杨煜、赵玉月 |
绘制单位 | 中微亿芯有限公司、中微亿芯有限公司、中微亿芯有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
对流片后的芯片做抖动测试,不同情况下测试眼图结果如图10所示,各种情况下测试的抖动值如表4所示,从测试结果可知,测试值大于仿真值,这是由于测试条件的影响所致。
图表编号 | XD00130962000 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.03.20 |
作者 | 沈广振、杨煜、赵玉月 |
绘制单位 | 中微亿芯有限公司、中微亿芯有限公司、中微亿芯有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |