《表1 典型内腔高度与频率值的关系(条件A)》
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《一种CPGA微电子器件PIND夹具及试验方法研究》
基于式(2),典型内腔高度与频率值的关系如表1的一些典型值。
图表编号 | XD00123856800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.31 |
作者 | 周帅、吕宏峰、王斌、黄煜华 |
绘制单位 | 工业和信息化部电子第五研究所、工业和信息化部电子第五研究所、工业和信息化部电子第五研究所、工业和信息化部电子第五研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |