《表3 X射线能谱1分析成分wt》
在低倍率下沿着Chevron条纹追踪到裂纹起源的区域,然后在高倍率下沿着裂纹面中的河流流向的逆向寻找裂纹源的原始颗粒[3]。使用SEM进行X射线能谱分析裂纹源处部分元素及含量见表3、表4。
图表编号 | XD00122655800 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.10.20 |
作者 | 刘曌娲、郝帅 |
绘制单位 | 莱钢集团粉末冶金有限公司、山钢股份莱芜分公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
在低倍率下沿着Chevron条纹追踪到裂纹起源的区域,然后在高倍率下沿着裂纹面中的河流流向的逆向寻找裂纹源的原始颗粒[3]。使用SEM进行X射线能谱分析裂纹源处部分元素及含量见表3、表4。
图表编号 | XD00122655800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.10.20 |
作者 | 刘曌娲、郝帅 |
绘制单位 | 莱钢集团粉末冶金有限公司、山钢股份莱芜分公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |