《表6 1号膜元件膜片X射线能谱分析》
能谱分析(表6)结果表明,1号膜元件解剖的污染膜片表面主要含C、N、O元素,但C、N元素比例较正常新膜片发生变化,其中N、O元素占比增加,由此判断膜表面污染物主要为含C、N、O元素的有机污染物。
图表编号 | XD00133157600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.02.29 |
作者 | 刘云龙、郑燚、田小康 |
绘制单位 | 鞍山钢铁公司能源管控中心发电分厂北部作业区、时代沃顿科技有限公司、时代沃顿科技有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
能谱分析(表6)结果表明,1号膜元件解剖的污染膜片表面主要含C、N、O元素,但C、N元素比例较正常新膜片发生变化,其中N、O元素占比增加,由此判断膜表面污染物主要为含C、N、O元素的有机污染物。
图表编号 | XD00133157600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.02.29 |
作者 | 刘云龙、郑燚、田小康 |
绘制单位 | 鞍山钢铁公司能源管控中心发电分厂北部作业区、时代沃顿科技有限公司、时代沃顿科技有限公司 |
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