《表6 1号膜元件膜片X射线能谱分析》

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能谱分析(表6)结果表明,1号膜元件解剖的污染膜片表面主要含C、N、O元素,但C、N元素比例较正常新膜片发生变化,其中N、O元素占比增加,由此判断膜表面污染物主要为含C、N、O元素的有机污染物。