《表3 激光干涉仪与平面光栅尺的位置精度对比》
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从表3可以看出:去掉部分重复性后的干涉仪的精度约为0.2μm,而平面光栅尺模型经三次校准后,精度约为5nm,与第一次校准精度相比,三次校准后的精度明显提高。实验证明,该方法确实可以在很大程度上提高平面光栅尺的测量精度。
图表编号 | XD00119130100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.10 |
作者 | 郝春晓、张文涛、王献英、黄逊志 |
绘制单位 | 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院、桂林电子科技大学电子工程与自动化学院、上海微电子装备(集团)股份有限公司、上海微电子装备(集团)股份有限公司、上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
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