《表1 单掺、共掺ZnS优化后的晶胞常数和键长》
Note:a—in pure zinc-blende ZnS:a=b=c=10.93,the bond length of Zn-S=2.37;b—M1and NM2means the substitutional metal atoms andnonmetal atoms,respectively
为评估计算方法的准确性,进行了一系列ZnS超胞优化的计算。首先,优化ZnS原胞,优化后晶格常数为a=b=c=0.546nm,这与实验值(a=b=c=0.541nm)[19]和Lee等理论计算得出的a=c=0.543 6nm[20]非常吻合,以此保证了该方法的可靠性。因此,在计算纯ZnS和掺杂ZnS的几何结构、电子属性和能带结构时采用了相同的条件。计算结果表明纯ZnS属于直接带隙的半导体,计算的带隙值为2.07eV,这与Yeh等的理论预测接近[21],但与实验值(3.7eV)[22]相比偏小,这种低估主要是由于广义梯度近似(GGA)与局域密度近似(LDA)都存在带隙计算值偏低的普遍性问题[23]。纯ZnS与掺杂的ZnS之间结构参数的差异如表1所示。
图表编号 | XD0010413900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.05.25 |
作者 | 王晓伟、乔士柱、李淑青、胡慧芳 |
绘制单位 | 太原工业学院理学系、太原工业学院理学系、太原工业学院理学系、湖南大学微纳光电器件及应用教育部重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |