《现代测试系统》求取 ⇩

第一章绪论1

1.1 测试技术的作用及其发展1

1.2 现代测试系统的特点3

1.2.1 现代测试系统的分类3

1.2.2 现代测试系统的特点4

1.3 现代测试系统的基本结构6

1.3.1 非电量的特征6

1.3.2 计算机控制的数据采集系统6

1.3.3 标准接口系统9

1.3.4 工艺过程计算机闭环采样控制系统10

2.1.2 自然干扰12

2.1.1 干扰的分类12

2.1 干扰源12

第二章干扰及其抑制12

2.1.3 电气设备干扰13

2.1.4 内部干扰14

2.2 干扰的耦合15

2.2.1 电阻耦合15

2.2.2 容性（电场）耦合16

2.2.3 感性（磁场）耦合18

2.3 电磁屏蔽19

2.3.1 电场屏蔽19

2.3.2 磁场屏蔽21

2.4 接地24

2.4.1 安全接地24

2.4.2 信号接地25

2.4.3 电缆屏蔽层的接地28

2.4.4 隔离29

第三章信号传输32

3.1 信号传输中的基本问题32

3.1.1 概述32

3.1.2 信号传输中的基本问题32

3.2 调制原理34

3.2.1 概述34

3.2.2 调幅38

3.2.3 角调制43

3.3 脉冲调制51

3.3.1 模拟信号的采样51

3.3.2 脉冲幅度调制51

3.3.3 脉宽调制与脉位调制53

3.4 多路传输原理54

3.4.1 频分制多路传输55

3.4.2 时分制多路传输58

3.4.3 频分制和时分制的比较60

3.5 数字信号的基带传输60

3.5.1 概述60

3.5.2 数字基带信号的码型61

3.5.3 PCM基带信号的功率谱62

3.5.4 信道对信号波形的影响63

3.5.5 幅频特性的滚降64

3.6 数字信号的频带传输66

3.6.1 数字调幅（ASK）66

3.6.2 数字调频（FSK）67

3.6.3 数字调相（PSK）68

4.1 引言71

第四章信号处理72

4.2 滤波72

4.2.1 理想滤波器72

4.2.2 滤波器的传递函数73

4.2.3 RC有源滤波器80

4.2.4 RC有源滤波器的设计方法85

4.2.5 有源陷波器91

4.3 信号线性化93

4.3.1 线性化的意义93

4.3.2 模拟硬件线性化器94

4.3.3 特殊线性化器99

4.3.4 用软件实现线性化102

4.4 数据处理与系统自校准106

4.4.1 误差的类型及其特点106

4.4.2 测量数据的处理107

4.4.3 测试系统的自校准110

4.5 干扰信号的软件处理112

4.5.1 单频率干扰信号的处理112

4.5.2 测量曲线的平滑114

4.5.3 强干扰信号的处理115

第五章数据采集与控制系统118

5.1 接口和总线概述118

5.1.1 接口118

5.1.2 总线119

5.2.2 ADC0809与MCS-51单片机的接口120

5.2.1 A/D转换器概述120

5.2 模—数转换器与DSP120

5.2.3 AD574与微型计算机接口123

5.2.4 A/D转换器与计算机接口的一般规律128

5.2.5 高速数字信号处理器（DSP）129

5.3 数—模转换器131

5.3.1 D/A转换器概述131

5.3.2 DAC0832与MCS-51单片机接口131

5.3.3 DAC0808与微型计算机接口134

5.3.4 DAC1210与MCS-51接口135

5.4 示波器及X-Y绘图仪接口137

5.4.1 示波器与微处理机接口137

5.4.2 X-Y绘图仪与微处理机接口139

5.5.1 磁带录音机中磁带记录格式140

5.5 标准音频磁带机接口140

5.5.2 磁带机接口电路141

5.6 打印机接口143

5.6.1 μ80打印机概述143

5.6.2 接口信息及控制时序（Centronics标准）143

5.6.3 μ80打印机与Z80-P1O的硬件连接144

5.7 RS-232C异步通信接口原理及应用145

5.7.1 异步通信规程145

5.7.2 RS-232C接口146

5.7.3 异步通信适配器148

5.7.4 常用计算机间双RS-232C接口连接150

5.8 STD总线151

5.8.1 总线的实现151

5.8.2 总线信号的定义和排列152

5.8.3 总线信号的功能153

5.9 两级分布式测控、管理系统155

5.9.1 概述155

5.9.2 两级分布式测控、管理系统总体结构156

5.9.3 上级机配置及功能156

5.9.4 多路通信工作站配置及功能157

5.9.5 前端机配置及功能157

5.9.6 通信问题158

第六章GP-IB标准接口系统及其应用159

6.1 概述159

6.1.1 GP-IB标准接口系统的由来与发展159

6.1.2 接口系统的基本特性159

6.1.3 GP-IB接口的应用160

6.2.1 器件职能161

6.2 GP-1B总线结构161

6.2.2 GP-IB总线描述162

6.2.3 三线挂钩过程164

6.2.4 总线电缆及电缆接头165

6.3 接口功能设置166

6.3.1 讲者功能（T）和听者功能（L）166

6.3.2 源挂钩功能（SH）和受者挂钩功能（AH）167

6.3.3 控者功能（C）167

6.3.4 服务请求功能（SR）167

6.3.5 并行点名功能（PP）167

6.3.6 远地／本地功能（R/L）167

6.3.7 器件触发功能（DT）168

6.3.8 器件清除功能（DC）168

6.4.1 消息的分类169

6.4 消息编码及传递169

6.4.2 消息的编码171

6.4.3 消息传递176

6.5 接口功能的状态图177

6.5.1 器件清除功能（DC功能）状态图178

6.5.2 器件触发功能（DT功能）状态图178

6.5.3 听功能（L功能和LE功能）状态图179

6.5.4 受者挂钩功能（AH功能）状态图181

6.5.5 讲功能（T功能和TE功能）状态图183

6.5.6 源挂钩功能（SH功能）状态图185

6.5.7 服务请求功能（SR）状态图187

6.5.8 并行点名功能（PP功能）状态图188

6.5.9 远地／本地功能（RL功能）状态图189

6.5.10 控功能（C功能）状态图190

6.5.11 接口功能子集195

6.5.12 器件接口功能的配置195

6.6 GP-IB接口设计196

6.6.1 用中、小规模集成电路设计接口196

6.6.2 用GP-IB专用大规模集成电路设计接口202

6.6.3 用软件模拟实现接口功能212

6.7 测量仪器的程控214

6.7.1 概述214

6.7.2 程控仪器的寻址215

6.7.3 远控和本控切换216

6.8 器件消息的编码格式219

6.8.1 器件消息的一般编码格式219

6.8.2 程控指令的编码格式224

6.8.3 测量数据的编码格式226

6.8.4 状态拜特的编码格式227

第七章CAMAC标准接口系统229

7.1 引言229

7.2 基本机箱标准231

7.2.1 CAMAC系统的基本特点231

7.2.2 机箱结构231

7.2.3 信号电平标准233

7.2.4 数据电路源标准233

7.3 数据路及其操作234

7.3.1 命令（NAF）234

7.3.2 数据路操作的定时238

7.3.4 状态信息（L,B,Q,X）241

7.3.3 数据及其传递241

7.3.5 公共控制（Z,C,I）248

7.3.6 其它连线249

7.3.7 组件设计与系统实例249

7.4 CAMAC分支系统250

7.4.1 概述 .250

7.4.2 分支总线的结构251

7.4.3 分支操作与定时253

7.4.4 分支驱动器与A-Ⅰ型机箱控制器255

7.5 CAMAC串行系统257

7.5.1 概述257

7.5.2 电文格式258

7.5.3 电文序列与SCC动作序列264

7.6.2 辅助控制器总线（ACB）267

7.6 多控制器系统267

7.6.1 概述267

7.6.3 辅助控制器总线的使用269

第八章VXI总线系统271

8.1 VXI总线的由来与特点271

8.1.1 VXI总线的由来271

8.1.2 VXI总线的特点272

8.2 VXI系统的组成结构273

8.2.1 VXI插件及连接器273

8.2.2 VXI主机架274

8.2.3 系统的控制方式和零插槽275

8.2.4 VXI系统组成结构实例276

8.3.2 P1连接器及有关的总线277

8.3.1 引言277

8.3 VXI系统的总线结构277

8.3.3 P2连接器及有关的总线282

8.3.4 P3连接器及有关的总线285

8.4 VXI总线器件及其通讯协议287

8.4.1 VXI总线器件分类287

8.4.2 VXI总线器件通讯协议288

8.5 VXI总线器件的实现291

8.5.1 VXI总线仪器291

8.5.2 488-VXI总线接口294

参考文献298

附录A GP-IB接口功能子集表299

附录B GP-IB英文缩写索引304

附录C 集成电路符号对照308