《自动测试系统》求取 ⇩

第1章　绪论1

1.1　自动测试的意义1

1.2 自动测试的概念及其发展3

1.3　接口的演变5

1.4　第二代和第三代自动测试系统8

习题与思考题9

参考文献9

第2章　GPIB数字接口10

2.1　开放式互联设备数字接口总线的发展10

2.2　GPIB的基本特性13

2.3　GPIB器件模型15

2.4　GPIB总线16

2.4.1　GPIB总线的结构16

2.4.2　数据母线17

2.4.3　挂钩控制母线17

2.4.4　管理母线19

2.4.5　母线连接器20

2.5　接口功能及其赋予器件的能力21

2.5.1　五种基本接口功能21

2.5.2　辅助接口功能五种22

2.6　总线接口消息23

2.6.1　GPIB消息分类及传递途径23

2.6.2　接口消息编码24

2.7　电气接口27

2.8　DIO线消息拜特传递控制规程——三线连锁挂钩过程29

2.9　GPIB事件序列推荐32

2.9.1　器件消息拜特的传递32

2.9.2　器件清除和触发的执行33

2.9.3　服务请求与串行查询序列34

2.9.4　并行查询序列36

2.9.5　负责控者转移的实现39

2.10　GPIB接口功能的规定40

2.10.1　接口状态图40

2.10.2　时限41

2.10.3　输出消息42

2.10.4　接口功能子集42

习题与思考题43

参考文献44

第3章 器件数据句法格式与公用命令46

3.1　程控设备的器件数据趋于标准化46

3.2　GPIB器件操作与器件数据传递48

3.2.1　设备在GPIB系统中的地位48

3.2.2　仪器的GPIB操作与控制49

3.2.3　GPIB系统的器件数据传递50

3.3　器件接口功能配置与附加要求51

3.4　测量仪器的器件数据51

3.4.1　仪器的程控消息54

3.4.2　仪器的响应消息56

3.4.3　仪器的状态数据报告59

3.5　消息交换控制协议59

3.5.1　交换控制功能构成模型61

3.5.2　消息交换控制操作66

3.6　信息数据编码与数值数据格式70

3.6.1　信息数据编码70

3.6.2　数值数据二进制编码和格式71

3.6.3　ASCII码数值数据表示法73

3.7　〈程控消息〉编码句法73

3.7.1　程控消息的结束与分界74

3.7.2　程控〈命令消息单元〉74

3.7.3　程控〈询问消息单元〉82

3.8　〈响应消息〉编码句法84

3.8.1　〈响应消息单元〉的双重性84

3.8.2　〈响应题头〉编码句法84

3.8.3　〈响应数据〉功能元素的编码格式86

3.8.4　响应消息定界符88

3.9　仪器的状态报告89

3.9.1　状态报告的基本结构和操作89

3.9.2　器件状态拜特结构91

3.9.3　服务请求产生91

3.9.4　推荐的器件通用状态数据结构94

3.9.5　必须实现的标准状态数据结构96

3.9.6　并行查询响应处理98

3.10　公用命令99

3.10.1　公用命令和询问集99

3.10.2　公用命令和询问语义101

3.11　GPIB器件的初始复位操作106

3.11.1　三级复位命令与操作106

3.11.2　电源通复位要求106

3.12　可程控仪器标准命令SCPI107

3.12.1　SCPI的目标107

3.12.2　SCPI仪器模型108

3.12.3　标准命令的句法和型式设计指南109

3.12.4　SCPI命令树图概要112

3.12.5　数据交换格式114

习题与思考题116

参考文献117

第4章　GPIB系统的主控机118

4.1　主控机的特点118

4.2　直接驱动式控制机119

4.2.1　接口硬件119

4.2.2　软件系统120

4.2.3　应用举例121

4.3　语言扩充式控制机124

4.3.1　UESTC-1430 Ⅲ型接口硬件125

4.3.2　μPD7210126

4.3.3　软件系统137

4.3.4　应用举例160

4.3.5　扩充C语言函数库164

4.3.6　Borland C++ 3.1函数库167

4.4　子程序调用式控制机172

4.4.1　接口硬件173

4.4.2　接口软件包173

4.4.3　测试程序举例183

4.4.4　IBIC的使用188

习题与思考题190

参考文献190

第5章 自动测试系统的组建192

5.1　概述192

5.2 自动测试系统的组建工作193

5.3　测量仪器的准备194

5.4　主控机的准备197

5.5 自动测试系统的联接205

习题与思考题207

参考文献207

第6章　自动测试系统举例208

6.1　无控者的系统208

6.2　小功率计的调零和读数213

6.3　扫频测量系统216

6.4　增益和衰减测量系统223

6.5　功率探头的定标229

6.6　信号发生器检定系统235

6.7　压控振荡器特性的测量241

6.8　微波网络的自动分析254

习题与思考题266

第7章　模块式仪器测试系统267

7.1　模块式仪器测试系统的发展267

7.2　VXIbus模块式仪器测试系统结构模型268

7.2.1　物理结构示意269

7.2.2　VXIbus器件模型269

7.2.3　VXIbus测试系统模型272

7.3　VXIbus总线物理接口275

7.3.1　VXIbus总线结构275

7.3.2　高性能微机工业总线物理接口276

7.3.3　面向仪器类总线信号线功能280

7.4　VXIbus器件及其通信规程281

7.4.1　器件的基本配置281

7.4.2　VXIbus总线系统通信规程模型283

7.4.3　消息基器件的通信规程284

7.5　VXIbus仪器操作规程287

7.5.1　VXIbus仪器基本操作协议288

7.5.2　VXIbus IEEE488.2仪器289

7.6　VXIbus总线系统管理289

7.6.1　系统共用资源器件289

7.6.2　系统的初始化操作过程291

7.6.3　器件的初始化过程和终止操作291

7.6.4　资源管理器对VXIbus总线系统的组态过程与算法294

7.7　VXIbus测试系统主控计算机与编程环境297

7.7.1　内嵌式主控计算机297

7.7.2　外接式GPIB控制器与488-VXIbus接口299

7.7.3　MXIbus与接口300

7.7.4　测试编程环境302

7.8　测试系统开发指南305

7.8.1　测试系统的组建305

7.8.2　系统开发手段306

习题与思考题307

参考文献307

第8章　自动测试的发展308

8.1　第三代自动测试系统308

8.2　可程控测试接口314

8.3　测试技术的革新316

8.4　测试设计的策略320

8.5　测试的策略323

8.6　被测件的可测性324

参考文献327

附录A　GPIB消息真值编码表328

附录B　GPIB接口功能子集331