《表2 二氧化硅νasSi-O-Si的2D-DRIFTS数据及解释(1 100～1 050 cm-1)》

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《二氧化硅二维漫反射红外光谱特征研究》

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图4中，在（1 092 cm-1，1 092 cm-1）附近发现有一个相对强度较大的自动峰。图5中，在（1 086 cm-1，1 088 cm-1）和（1 088 cm-1，1 092 cm-1）频率附近各发现有1个相对强度较大的交叉峰，相关光谱数据见表2。