《表1 二氧化硅νasSi-O-Si的2D-DRIFTS数据及解释(1 190~1 150 cm-1)》
图3中,在(1 171 cm-1,1 175 cm-1)频率附近存在一个相对强度较大的交叉峰,相关光谱数据见表1。
图表编号 | XD009770700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.11.25 |
作者 | 武玉洁、沙淑莉、董妍、胡梦璇、张智博、杨若冰、肖霄、于宏伟 |
绘制单位 | 河北一品制药股份有限公司、泰斯汀检测技术服务有限公司、石家庄学院化工学院、石家庄学院化工学院、石家庄学院化工学院、石家庄学院化工学院、石家庄学院化工学院、石家庄学院化工学院 |
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