《表1 二氧化硅νasSi-O-Si的2D-DRIFTS数据及解释(1 190~1 150 cm-1)》

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《二氧化硅二维漫反射红外光谱特征研究》


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图3中,在(1 171 cm-1,1 175 cm-1)频率附近存在一个相对强度较大的交叉峰,相关光谱数据见表1。