《表5 二氧化硅νsSi-O-Si的2D-DRIFTS数据及解释(720～680 cm-1)》

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《二氧化硅二维漫反射红外光谱特征研究》

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由图8和图9可见，在（694 cm-1，694 cm-1）频率附近发现有1个相对强度较大的自动峰。在（682 cm-1，692 cm-1）、（692 cm-1，696cm-1）和（696 cm-1，700 cm-1）频率附近发现有3个相对强度较大的交叉峰，相关光谱数据见表5。