《表2 CFx阴极在55℃下储存不同时间后Raman谱的ID/IG值》
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Fig.7 XRD patterns of CFx cathodes after storage at different temperatures for various days:（a）Without storage；（b）At 25℃for 15 days；（c）At 25℃for 30 days；（d）At 40℃for 15days；（e）At 40℃for 30 days；（f）At 55℃for 15 days；（g）At 55℃for 30 days；（h）At 70℃for 15 days；（i）At40℃for 30 days
| 图表编号 | XD0088120100 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.07.01 |
| 作者 | 马苓、钟学奇、桑林、丁飞、张硕卿、刘兴江、徐强 |
| 绘制单位 | 天津大学化工学院、中国电子科技集团公司第十八研究所化学与物理电源重点实验室、天津市津南区安全生产监督管理局、天津大学化工学院、中国电子科技集团公司第十八研究所化学与物理电源重点实验室、中国电子科技集团公司第十八研究所化学与物理电源重点实验室、中国电子科技集团公司第十八研究所化学与物理电源重点实验室、天津大学化工学院、天津大学化工学院、中国电子科技集团公司第十八研究所化学与物理电源重点实验室、天津大学化工学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
