《表1 CFx阴极在不同温度下储存15天后Raman谱的ID/IG值》

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《Li/CF_x电池高温储存性能和失效机理》

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图8和9所示为Li/CFx电池在不同温度下储存不同时间后拆解下来的CFx阴极表面的拉曼光谱。由图8和9可见，两峰谱线强度的比值ID/IG可以反映出样品结晶的有序程度，即ID/IG的比值越小，说明样品的结晶越完整，有序化的程度也越高[30]。从图8和9中的谱线中可以发现，CFx阴极表面的拉曼光谱中均存在两个峰，即位于1356 cm-1附近的D峰和位于1582cm-1附近的G峰[31]。这两个图中的谱线具有一个相似的特点，就是随着储存温度的升高或储存时间的延长，拉曼光谱的ID/IG比值呈现出逐渐增大的一种变化趋势。表1和2分别列出了图8和9中的ID/IG的比值。拉曼光谱ID/IG比值的这种变化趋势反映了不同CFx阴极表面结构的排列分布状况，可以用Li/CFx电池放电产物的“核-壳”模型来加以解释。在储存开始时，Li/CFx电池自放电产生的放电产物（Li F+C）较少，零散地分布在CFx阴极的表面上，所以其ID/IG比值较低。随着储存温度的升高或储存时间的延长，Li/CFx电池的自放电现象会逐渐加剧，分布在CFx阴极表面的放电产物数量也会变得越来越多，放电产物层也会变得越来越厚。由于膨胀过程和热应力的作用，放电产物层的有序程度会随着自放电的加剧而变得越差，造成CFx阴极表面的拉曼光谱的ID/IG比值会不断地升高。