《表2 两种测量系统对回光反射标志测定的点位精度统计Tab.2 Two kinds of measurement systems for measure the point accuracy of r
分别使用瑞士徕卡厂制造的经纬仪工业测量系统和解放军信息工程大学研制的Metro In-DPM数字工业摄影系统[9-10]对多用型觇板的各测量标志的三维坐标进行了精密测定。表2给出了两种测量系统对回光反射标志测定的点位精度的统计结果。
图表编号 | XD008018100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.06.25 |
作者 | 何福久、任保刚、臧炳贵 |
绘制单位 | 珠海市测绘院、珠海市测绘院、山东省水利勘察设计院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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