《表3 单粒子翻转引起的图像异常模式》
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《8T-全局曝光CMOS图像传感器单粒子翻转及损伤机理》
在16 O离子（LET为3.1MeV·cm2·mg-1）实验过程中，仅监测到单粒子瞬态效应，3.1节的分析表明，随着辐照重离子的LET值增加，CIS的单粒子翻转数迅速增加，并将诱发不同功能寄存器发生单粒子翻转，在宏观上表现为采集图像异常。表3所示为不同LET值时重离子辐照诱发不同功能寄存器发生单粒子翻转引起的图像异常模式。
| 图表编号 | XD0062551800 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.05.10 |
| 作者 | 汪波、王立恒、刘伟鑫、孔泽斌、李豫东、李珍、王昆黍、祝伟明、宣明 |
| 绘制单位 | 中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国科学院新疆理化技术研究所辐射效应实验室、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国 |
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