《表3 同构IP核的测试结果》

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《SOC嵌入式数字IP核通用测试方法》

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*序号代表不同的FPGA配置位流

其次，由于目前SOC中往往集成大量的同构IP核，对其测试一般采用内建自测试的方法，因此我们使用测试壳来包裹大量被测同构IP核的内建自测试（BIST）模块，我们采用MarchSS算法以及文献[8][9]中的算法来设计RAM和DSP的BIST电路模块（如图6），然后控制测试壳完成测试.全局20MHz测试时钟由外部信号发生器提供，测试结果见于表3.