《表4 与相关文献比较结果》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《SOC嵌入式数字IP核通用测试方法》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

*注1:测试壳面积/RAM面积（um2）*注2:1500规定指令+自定义指令

此外，（1） 中测试壳的BIST算法较简单（复杂度为6n）.我们的测试壳支持测试算法可变，且采用的MarchSS算法的复杂度为22n，是（1）中的3.7倍，这意味着测试RAM时具有更高的故障覆盖率，并且考虑到对所有指令支持而产生的译码器等电路的开销，面积开销增加0.1%是可以接受的.与（2）相比，开销明显增加的主要原因是（2）中的标准测试壳仅支持3个1500指令，而我们提出的测试壳支持11个指令和相应的工作模式，考虑到指令的译码电路和支持各种测试模式的电路开销，面积开销增加0.7%是可以接受的.