《表2 四种异构IP核测试结果》

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《SOC嵌入式数字IP核通用测试方法》

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IP0和IP1为两块位宽不同的RAM核，IP2和IP3分别为乘法器和加法器.我们利用RAM测试算法MarchSS[8]测试IP0和IP1；文献[8][9]中的算法测试IP2和IP3；此外我们利用测试壳的外部测试功能（WS＿EXTEST）测试了IP2和IP3之间的30bit的互连.进一步我们使用前面提到的方法获得IP核的PDL格式测试图形文件.当准备好PDL和ICL文件后，测试软件将自动识别测试网络中连接的所有IP核，然后逐个开始测试，测试结果见于表2.我们可以看到，虽然测试时间受限于我们的USB-JTAG板，它只能提供3Mbps的吞吐率，但是由于该JTAG接口是通用的，因此这种方法可以兼容更高速度的测试设备，进而执行IP核扫描测试.