《表1 测试壳支持配置指令及工作模式》

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《SOC嵌入式数字IP核通用测试方法》

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文提出的测试壳（如图2）由以下几种基本寄存器组成:测试壳指令寄存器（WIR）、测试壳旁路寄存器（WBY）、测试壳边界寄存器（WBR），在IEEE1500中详细阐述了其设计方法，所以我们在此不做赘述，此外我们自定义了一个测试壳数据寄存器WDR＿IDCODE，它用于存储测试壳的唯一身份标识信息.与标准测试壳边界寄存器（WBR）不同，我们在每个WBR单元之间加入一个多路选择器，用以将每个WBR单元的输入和输出取出作为WTI以及WTO，当测试壳配置在WX＿INTEST，WX＿EXTEST模式时，用户可以根据自己的设计需求自定义WBR扫描链的长度以及条数.此外我们使用Verilog自顶向下的参数设计方法和编译器指令来实现仅需重新定义IP核的IO引脚的数量和名称，就可以自动生成IP核对应的测试壳.本文设计的测试壳支持IEEE1500中规定的所有11条指令和相应的工作模式，表1详细记录了测试壳所支持的指令名称以及对应的工作模式.此外，我们自定义1条指令Wrapper＿IDCode来识别芯片中每个测试壳.当WIR中选择以上不同的指令后，其译码电路将生成相应的信号，配置WSI-WSO之间连入对应的寄存器，同时IO＿face和WBR＿modes＿ctrl信号将WBR配置为向内测试模式、向外测试模式或安全模式.