《表2 不同n (Si) ∶n (Al) 的Pt@SOD原子吸收光谱测试结果》

《表2 不同n (Si) ∶n (Al) 的Pt@SOD原子吸收光谱测试结果》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
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《不同硅铝摩尔比Pt@SOD催化氢与氧直接合成过氧化氢的性能》


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图6为SOD-Pt样品的X射线光电子能谱分析(XPS)谱图。根据表2中Pt@SOD-(Ⅱ)-n(Si)∶n(Al)-2的Pt含量进行等体积浸渍制得样品,具体制备方法见实验部分。图6(a)为SOD-Pt样品C、Al、Si、Pt宽扫描得到的总谱图。图6(b)为C1s的谱图,通过C1s的标准结合能对所得谱图结合能进行校正,C1s的标准结合能为284.4eV,样品的C1s的结合能为284.68eV,在数据处理之中将校正值284.4eV-284.68eV=-0.28eV加入得到图6(c)Si2p的谱图、图6(d)Al2p的谱图和图6(e)Pt4d的谱图。图6(d)Al2p的谱图中结合能72.9eV处有强峰位即Al2p轨道,但在谱图中可在主峰边有肩峰,结合能为71.0eV处为Pt元素的Pt4f7轨道,Pt4f7与Pt4f5峰位间距为3.45,且峰面积比为4∶3,由此可以推出Pt4f5存在且被Al2p强峰所覆盖。图6(e)中可明显观察到Pt次强峰位为结合能为314.5eV的Pt4d5轨道及结合能为331.2eV的Pt4d3轨道。由图6(d)与(e)均可识别判断出样品表面有较多Pt粒子的存在。