《表1 工艺改进前后成晶率和成品率的对比Tab.1 Comparison of crystallization rate and final prod-》
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《VGF法SI-GaAs单晶生长工艺与固液界面形状的研究》
表1给出了工艺改进前后成晶率和成品率的开炉对比,2018年4 in SI-Ga As共开炉84炉,单晶49颗,其中有27颗头尾电阻率均在108Ω·cm的量级,占单晶总数的55.1%,相比于2017年的49.3%提高了近6个百分点。
图表编号 | XD0042674800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.01 |
作者 | 边义午 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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