《表2 工艺改进前后单晶长度对比Tab.2 Comparison of single crystal length rate before and after process improvement》
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《VGF法SI-GaAs单晶生长工艺与固液界面形状的研究》
表2给出了工艺改进前后单晶长度的对比,对比结果不难看出工艺的改进使得单晶平均长度比上一年增加了13 mm。
图表编号 | XD0042675000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.01 |
作者 | 边义午 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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