《表1 理论计算最小绕组损耗及最优铜箔厚度》
由图4可以看出,随着铜箔厚度的增加,绕组损耗会呈现出先减小再增大的趋势。这主要是因为随着铜箔厚度的增加,其截面积增加,电阻减小,导致损耗减小。当铜箔厚度超过一定限值时,涡流效应开始增强,此时增加铜箔厚度,反而会使绕组损耗增加。因此会存在一个最优的铜箔厚度,使绕组损耗最小。这里计算出给定方案的最小绕组损耗及相应最优铜箔厚度和漏感,如表1所示。
图表编号 | XD00347000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.11.01 |
作者 | 任玉强、陈为 |
绘制单位 | 福州大学电气工程与自动化学院、福州大学电气工程与自动化学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |