《表1 样品的XRD谱图精修后的晶胞参数》

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《钾掺杂对钒酸钠纳米片储钠性能的影响》

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为进一步说明钾离子掺杂对材料结构的影响，对四个样品的XRD谱图进行比较（图1c），分别用NVO（0K）、NVO（1K）、NVO（3K）和NVO（5K）来表示.由图可知，XRD图谱中没有钾氧化物的特征峰，说明钾离子已经掺杂到Na5V12O32晶体中.由图1d可知，晶面（100）、（103）和（014）对应的衍射峰的角度向低角度偏移.由于K+和Na+的离子半径分别为1.38?和1.02?，如果K+在Na5V12O32晶体的层间掺杂，即在钠位掺杂，则相邻[V3O8]-层的层间距扩大，沿a-轴方向的晶胞参数增加明显.掺杂不同钾量的样品的晶胞参数见表1.由表1可知，随钾掺杂量的提高，晶胞体积增大，沿a-轴方向的晶胞参数增加较明显，沿b-、c-轴方向的晶胞参数变化不大.此外，由XRD精修结果可知，与（100）晶面相关的Na（1）—O（3），Na（1）—O（2），Na（1）—O（8）和Na（2）—O（3）键的键长对未掺杂样品分别为2.977（13）?，2.465（20）?，2.458（14）?和2.127（28）?，对掺杂样品NVO（3K）分别为2.981（13）?，2.615（14）?，2.770（14）?和3.117（18）?，表明钾离子掺杂在晶体的层间，引起了Na—O键键长的增加.关于K+在层间掺杂将在XPS测试中进一步说明.