《表1 Rietveld精修获得的Bi0.9Sm0.1Fe1-xZrxO3 (x=0～0.08) 样品的晶胞参数》

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《Sm、Zr共掺杂对BiFeO_3陶瓷结构、电性以及磁性的影响》

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利用XRD对Bi0.9Sm0.1Fe1-xZrxO3（x=0～0.08）粉末样品进行物相分析，其结果如图1所示。通过与标准X射线粉末衍射卡片比对，XRD图谱结果显示Bi0.9Sm0.1Fe1-xZrxO3（x=0～0.08）样品均为三方结构，空间群为R3c，JCPDS卡片号为86-1518。从图1可以看到，当x=0.04，0.06以及0.08时在28°附近存在一个微弱的第二相衍射峰，对应化合物为Bi2Fe4O9。利用Rietveld方法的Fullprof程序对所有样品的XRD图谱进行结构拟合，实验数据以及精修结果拟合良好。所有的样品都能够用空间群R3c的结构拟合，其中Bi0.9Sm0.1FeO3样品的精修结果如图2所示。图2中短竖线为布拉格位置，图片底部为实验值与拟合值的差值曲线。在x=0.08的样品中含有的杂相为几个样品中最多的，通过精修结果可以知道在该样品中杂相含量<5%（质量分数）。表1给出了所有样品的晶胞参数。从表1可以看到，随着x的增加，样品的晶胞参数a和c逐渐增加，这是由于掺入的Zr4+（0.072nm）半径大于Fe3+（0.0645nm）半径的缘故，也从另一方面说明Zr4+进入了晶格当中。