《表1 引发率、击穿电压与纳米ZnO掺杂量的关系》

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《ZnO/环氧树脂复合材料的耐电树枝能力》

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在纯环氧的局放起始电压附近，选取电压9 kV、50 Hz进行20 min电树枝老化，通过显微镜观测试样中是否有电树枝产生，并统计其电树枝引发率。树枝通道延伸长于10μm则判定为电树枝产生。测试数据如表1所示。纯环氧电树枝出现概率基本达到100%。局放起始电压稍高的1%掺杂量ZnO/EP的电树枝出现概率开始下降。3%掺杂量的ZnO/EP的电树枝引发概率到达最低值20%。5%掺杂量ZnO/EP因为透光度与阴影现象的出现影响了观测[24]，为了结果的准确性不计入数据。与图3的局放起始电压测试结果对比发现，即使对于局放起始电压高于老化测试电压的材料，仍然有较小的概率出现电树枝。现代的生产手段可以减少高聚物内部的缺陷（诸如应力的集中和微孔），但却无法完全消除这些缺陷。这些缺陷的分布位置是随机的。当针尖的区域恰好存在这些缺陷，就会产生电场的畸变。针尖电场感应产生的麦克斯韦应力增强，在聚合物中产生微裂纹，放电现象加重，电子轰击分子链速度加快。电树枝的潜伏期大大缩短，经过一段时间的累积，就会发展为电树枝通道。