《表1 等效电路元器件值:硫脲对Sn-Ni合金电沉积行为的影响》

《表1 等效电路元器件值:硫脲对Sn-Ni合金电沉积行为的影响》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《硫脲对Sn-Ni合金电沉积行为的影响》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

由Zsimpwin软件对图6交流阻抗谱进行拟合,采用的等效电路如图7所示。表1为等效电路各元器件拟合参数值。由表1可知,随着硫脲浓度的增大,电荷转移电阻Rct值由794.7Ω·cm2减小至645.7Ω·cm2,表明电子转移过程阻力降低,有利于金属离子的还原。吸附电阻Rad由1246Ω·cm2减小至661.9Ω·cm2,表明增大硫脲浓度有利于金属离子在电极表面的吸附,进而有利于金属离子的还原。