《表2 Sandiego图实验中不同阵列长度检测性能分析Table 2 Performance analysis of different array length detection in Sand
为验证滑动阵列长度对算法性能的影响,对不同阵列长度下的滑动阵列形式LRT-K-RXD异常检测进行实验比较.表2记录了不同阵列长度下滑动阵列形式LRT-K-RXD异常检测算法的AUC与Az(τ,Pf)数值.可以看出,随着阵列长度增加,AUC逐渐增加,Az(τ,Pf)逐渐减小,当阵列长度达到1 500像元时,AUC达到最大0.837 7并趋于平稳,Az(τ,Pf)趋于平缓,其后稳定在0.060 0左右.即随着阵列长度增加,LRT-K-RXD检测性能提高并趋于平稳,对背景的抑制效果不断提高.
图表编号 | XD0023380800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.07.01 |
作者 | 赵辽英、林伟俊、王玉磊、厉小润 |
绘制单位 | 杭州电子科技大学计算机学院、杭州电子科技大学计算机学院、大连海事大学信息科学技术学院、中国科学院光谱成像技术重点实验室、浙江大学电气工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |