《表1 合成数据实验中不同阵列长度检测性能分析》
从表1中数据可以看出,随着阵列长度增加,LRT-K-RXD的AUC数值逐渐增大,检测性能不断提高.当阵列长度达到2 800像元时,AUC在0.9以上,具有较高准确性;阵列长度在3 200像元以上时,AUC数值趋于稳定;当阵列长度达到4 000像元时AUC达到1.0.这说明选取合适的阵列长度,LRT-K-RXD能在保持一定检测精度的同时实现实时处理.
图表编号 | XD0023380400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.07.01 |
作者 | 赵辽英、林伟俊、王玉磊、厉小润 |
绘制单位 | 杭州电子科技大学计算机学院、杭州电子科技大学计算机学院、大连海事大学信息科学技术学院、中国科学院光谱成像技术重点实验室、浙江大学电气工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |