《表7 导电胶的粘接性能情况》
对晶片和支架间的导电胶粘接性能进行测量,结果见表7。采用新的搅拌工艺后,Q组导电胶的粘接力增加了50%,有了质的提高,从显微镜下观察罐内导电胶的均匀程度可以发现,Q组胶体更细腻,均匀度更好。用X光检测仪观察产品内部的气泡情况可以发现,Q组的气泡数量少,即空洞率更低。
图表编号 | XD00228604000 严禁用于非法目的 |
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作者 | 王巍丹、崔巍、王莉、郑文强、段友峰 |
绘制单位 | 北京无线电计量测试研究所、北京无线电计量测试研究所、北京无线电计量测试研究所、北京无线电计量测试研究所、北京无线电计量测试研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |