《表5 X射线线阵扫描模式验证试验下的探测器工艺参数组合》
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为了验证式（2）的准确性，设计4组试验见表5，其中组合1、2为X射线线阵DR成像检测时的探测器工艺参数组合，组合3、4为X射线线阵CT成像检测时的探测器工艺参数组合。
| 图表编号 | XD00210252900 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2018.12.31 |
| 作者 | 董方旭、王从科、凡丽梅、赵付宝、张霞、郑素萍 |
| 绘制单位 | 中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
