《表1 X射线线阵DR成像检测时的探测器工艺参数组合》
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设计的探测器工艺参数组合见表1，其中探测器采样数与工件高度、系统放大倍数和探测器像素尺寸有关，具体关系为
| 图表编号 | XD00210251300 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2018.12.31 |
| 作者 | 董方旭、王从科、凡丽梅、赵付宝、张霞、郑素萍 |
| 绘制单位 | 中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
