《表2 各探测器工艺参数组合下的扫描时间》
对试验试样在表1的探测器工艺参数组合下进行X射线线阵DR成像检测,获取扫描时间见表2。
图表编号 | XD00210249000 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.12.31 |
作者 | 董方旭、王从科、凡丽梅、赵付宝、张霞、郑素萍 |
绘制单位 | 中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
对试验试样在表1的探测器工艺参数组合下进行X射线线阵DR成像检测,获取扫描时间见表2。
图表编号 | XD00210249000 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.12.31 |
作者 | 董方旭、王从科、凡丽梅、赵付宝、张霞、郑素萍 |
绘制单位 | 中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |