《表6 各探测器工艺参数组合下的扫描时间和计算误差》
由式(2)分别计算表5中4组探测器工艺参数组合下的扫描时间;同时对试验试样在表5的探测器工艺参数组合下分别进行X射线线阵DR成像检测和X射线线阵CT成像检测,获取扫描时间见表6。
图表编号 | XD00210250900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.12.31 |
作者 | 董方旭、王从科、凡丽梅、赵付宝、张霞、郑素萍 |
绘制单位 | 中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |