《表1 MNPs-ENZ和MNPs-ENZ@Si O2表面元素相对含量》
为进一步确定所制备载体的表面元素组成和相对含量,对MNPs-ENZ、MNPs-ENZ@Si O2进行了XPS分析,结果如图3所示.宽谱扫描结果(图3(a)、(b))可以看出,MNPs-ENZ@Si O2相比于MNPs-ENZ的谱线存在明显的Si2s(153.08 e V)和Si2p(102.11 e V)特征峰,而且O1s(531.94 e V)的信号值也较强,这意味着Si O2成功沉积在了MNPs-ENZ表面.对MNPs-ENZ、MNPs-ENZ@Si O2的O1s区域进行窄谱扫描,分峰拟合后的结果如图3(c)、(d)所示.MNPs-ENZ@Si O2的O1s峰包含硅氧键和铁氧键,而且硅氧键的含量明显高于铁氧键;MNPs-ENZ的O1s峰主要为铁氧键.说明MNPs-ENZ@Si O2表面氧元素主要以二氧化硅的形式存在.对MNPsENZ和MNPs-ENZ@Si O2的表面元素进行相对含量分析,结果如表1所示.MNPs-ENZ表面的硅元素只占总体元素的1.99%,硅元素的来源是环氧基硅烷中的Si.MNPs-ENZ@Si O2的硅元素含量有18.95%,明显高于MNPs-ENZ,而且其余元素的相对含量也较MNPs-ENZ更低,这可能是由于二氧化硅壳层覆盖了颗粒表面,导致其余元素的信号降低.
图表编号 | XD00209344700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.01.15 |
作者 | 白姝、朱云风、孙彦、余林玲 |
绘制单位 | 天津大学化工学院、天津大学化工学院、天津大学化工学院、天津大学化工学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |