《表3 试样表面主要元素组成及其相对含量》

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《500kV线路粉化复合绝缘子试验研究与机理分析》

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XPS分析也被称为X射线光电子能谱分析，主要分析的是硅橡胶绝缘子表面的元素组成和含量[10]。对于硅橡胶绝缘子，其表面的主要元素组成是Si、O、C、Al，占表面所有元素含量的99.6%以上。以样本S1作为测试样本，分别选取表面粉化严重和粉化较轻的区域进行了XPS分析，分析结果见表3。