《表3 样品的表面元素组成与含量》

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《运行复合绝缘子表面憎水特性及微观结构研究》

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对于硅橡胶而言，XPS的分析深度在表面10nm以内[18-19]，因此XPS可以很好地反映试样表面纳米级别的化学结构状态。通过XPS分析得到样品表面元素组成及其含量如表3所示。从表3可以看出，样品的n（C）/n（Si）和n(O）/n(Si）都分别接近聚二甲基硅氧烷（polydimethylsiloxane，PDMS）中的理论比值2.0和1.0，表明在运行样品表面约几纳米的深度范围内，主要组分是类似PDMS的有机结构，推测是在运行过程中硅橡胶中未交联的短链硅氧烷小分子扩散出来并覆盖在样品表面，使运行样品表层与未运行样品有类似的化学组分，与表面自由能的结果相符。