《表1 AE-100白光干涉仪部分参数》
采用白光干涉仪(图1、表1)采集表面三维形貌,其中,AE-100设备及软件部分为此测量系统的主要组成部分,软件部分由采集部分及分析部分组成,采集部分可以得到实验的干涉图像及高度数据;分析部分则可以计算粗糙度、还可以生成3D图像。白光干涉仪的实验流程如图2所示。
图表编号 | XD00202743200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.11.01 |
作者 | 王洪娇、秦襄培 |
绘制单位 | 武汉工程大学机电工程学院、武汉工程大学机电工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |