《表1 微带线以及带状线谐振器实测数据比对》
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《基于改进型微带线谐振腔体的微波介电性能测试系统研究》
注：以上表格1中数据，皆是三次测量取平均值所得。
从表1中可得，改进型微带线在品质因数上实现了更高水平，可推得在对于低损耗材料测试的过程中可以实现更高的测试精度。
| 图表编号 | XD00188340200 严禁用于非法目的 |
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| 作者 | 顾腾、向锋 |
| 绘制单位 | 西安交通大学微电子系功能材料研究中心 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
