《表7 不同温度条件下薄膜电路微带线厚宽比》
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选择不同的温度进行薄膜电路镀镍实验，以此来研究温度对薄膜电路微带线厚宽比的影响。相关结果如表7所示。
| 图表编号 | XD0016665000 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2018.08.15 |
| 作者 | 孙林、谢新根、程凯、刘玉根 |
| 绘制单位 | 中国电子科技集团公司第五十五研究所、中国电子科技集团公司第五十五研究所、中国电子科技集团公司第五十五研究所、中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
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