《表1 相同辐照总剂量下不同辐照剂量率对单模光纤性能的影响》
为了验证空间辐射对光纤性能的影响,对常规单模光纤进行了辐照试验并对比了辐照前后光纤损耗。辐照试验采用相同的电离辐照总剂量(≥3×103 Gy(Si)),不同的电离辐照剂量率(分别为0.5Gy/s(Si)、0.01Gy/s(Si)和0.005Gy/s(Si)),试验结果如表1所示。可见,辐照后光纤均呈现不同程度的衰减(损耗)增加现象,而且在辐照总剂量一定时,辐照剂量率越大,辐射后光纤的损耗就越大。
图表编号 | XD00186327300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.12.25 |
作者 | 张全、贠发红、贺卿 |
绘制单位 | 中国空间技术研究院西安分院、中国空间技术研究院西安分院、中国空间技术研究院西安分院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |