《表2 铂粉样品ICP-AES与铟片粘附-GDMS杂质测定(质量分数)结果对比》

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《辉光放电质谱法测定纯铂中杂质元素》

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*注：ERR=（GDMS-ICP-AES）/ICP-AES×100%。

金属铟熔点低、质地软，粉末状金属样品易于粘附在其表面。以铟作为粘附基材，样品前处理简单，可减少环境因素造成的污染。此外，铟易于提纯（本实验用铟片纯度为7N），引入的杂质干扰可以忽略。同时，铟仅有2个同位素113In和115In，对其他测定同位素的干扰小。采用铟片粘附法测定了铂管理样（3#样品，ωPt>99.95%）中的杂质元素含量。将195Pt+离子强度信号视为100%，通过待测离子相对强度计算其含量，可以忽略样品中粘附剂铟的影响。测定结果表明，铟片粘附与金属铂片测定的精密度相当，检出限无明显差异。将样品溶解后采用ICP-AES测定，部分杂质元素的测定结果对比如表2所列。