《表2 Cu系列样品表面元素组成分析Table 2 EDS for elemental analysis of Cu samples surface》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《腐蚀性硫浓度对“晶界工程”优化铜绕组抗油硫腐蚀性能的影响》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

图2呈现了Cu系列铜样品在扫描电镜下的表面的微观形貌。图2a的Cu-0样品表面平整，能清晰地看到Cu的晶界，即未发生腐蚀；而从Cu-200（图2b）开始，铜样品表面出现了腐蚀的孔洞，随着腐蚀性硫浓度的增加，孔洞大小和密集度都在增加。Cu-1000（图2d）表面晶粒已经成块剥落，且沉积较多的颗粒状腐蚀产物。表2呈现了以上样品在图2方框区域的能谱（EDS）分析数据，由表2可知，随着腐蚀性硫浓度的增加，表面硫元素开始出现并含量逐渐上升。这是由于Cu与腐蚀性硫发生反应，生成的含硫腐蚀性产物部分沉积在铜样品表面。